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描述：小麥表型測量儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、小穗數(shù)、總粒數(shù)和千粒重等指標的測量，可多點快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家更新時間
2024-06-04訪問量
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詳細介紹
| 品牌 | 優(yōu)云譜 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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優(yōu)云譜小麥表型測量儀
小麥育種研究中，小麥表型參數(shù)至關(guān)重要，小麥表型檢測儀可用于小麥株高、夾角、基粗、小麥畝穗數(shù)、理論產(chǎn)量、穗長、小穗數(shù)、總粒數(shù)和千粒重等指標的測量，可多點快速取樣數(shù)據(jù)可批量分析并獲取平均值。這些表型參數(shù)在小麥品種篩選、小麥產(chǎn)量預(yù)測、麥穗動態(tài)發(fā)育、基因定位、功能解析和小麥遺傳育種中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決小麥的表型參數(shù)測量問題。廣泛適用于各農(nóng)科院、高校、育種公司、種子站的小麥研究。
優(yōu)云譜小麥表型測量儀應(yīng)用廣泛：
1、小麥畝穗數(shù)檢測合適時期： 小麥抽穗期、開花期、灌漿期、成熟前期的小麥。
2、麥穗形態(tài)測量的時期：室內(nèi)考種時期：
3、小麥夾角測量時期：抽穗期、開花期、灌漿期、乳熟期。
4、千粒重測量時期： 室內(nèi)考種時期。
5、小麥株高測量時期： 各個生育時期。
三、技術(shù)參數(shù)：
測量范圍和誤差：
1、小麥畝穗數(shù)測量誤差： ≤±5%。
2、麥穗形態(tài)測量范圍： 5~20cm。
穗長誤差： ±2%。
小穗數(shù)誤差： ≤ 3個。
3、小麥夾角測量范圍： 0-180°。
作物粗： 0-5.2cm。
夾角測量誤差： +5%。
4、作物莖粗測量誤差： ±1%。
5、千粒重測量誤差： ±2%。
6、株高測量范圍： 0.1-1.1m。
測量誤差： ±1%。
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